申請/專利權人：南京芯馳半導體科技有限公司

申請日：2022-11-15

公開（公告）日：2023-03-17

公開（公告）號：CN115496021B

主分類號：G06F30/333

分類號：G06F30/333;G06F21/46;G06F21/44;G06F17/14;G06F5/06;G06F115/02

優先權：

專利狀態碼：有效-授權

法律狀態：2023.03.17#授權;2023.01.03#實質審查的生效;2022.12.20#公開

摘要：本申請公開了一種系統芯片的自動化測試方法、裝置、芯片、設備及系統，屬于芯片技術領域。所述方法包括：在系統芯片中配置測試單元；接收自動測試機臺發送的測試內容；根據測試內容調用系統芯片中配置的測試單元，根據測試單元對系統芯片進行測試；根據測試后得到的測試結果生成指紋，將指紋發送給自動測試機臺，自動測試機臺用于將指紋與標準指紋進行比較，并根據比較結果確定系統芯片的測試結果。本申請能夠根據測試內容調用自身配置的測試單元來完成測試，減少了測試過程中的數據傳輸，提高了測試速度，還能夠反饋測試結果的指紋，以減少數據傳輸和提高系統芯片的安全性。

主權項：1.一種系統芯片的自動化測試方法，其特征在于，所述方法包括：在系統芯片中配置測試單元；接收自動測試機臺發送的測試內容；根據所述測試內容調用所述系統芯片中配置的測試單元，根據所述測試單元對所述系統芯片進行測試；根據測試后得到的測試結果生成指紋，所述指紋是采用消息摘要算法對測試后得到的測試結果進行計算得到的消息摘要；將所述指紋發送給所述自動測試機臺，所述自動測試機臺用于將所述指紋與標準指紋進行比較，并根據比較結果確定所述系統芯片的測試結果，所述標準指紋是基于測試內容對應的標準測試結果生成的；其中，所述指紋的數據量小于測試后得到的測試結果的數據量，且根據所述指紋無法反推出測試后得到的測試結果。

全文數據：

權利要求：

百度查詢： 南京芯馳半導體科技有限公司 系統芯片的自動化測試方法、裝置、芯片、設備及系統

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