申請/專利權人：森思泰克河北科技有限公司

申請日：2020-12-30

公開（公告）日：2023-03-17

公開（公告）號：CN112781839B

主分類號：G01M11/02

分類號：G01M11/02

優先權：

專利狀態碼：有效-授權

法律狀態：2023.03.17#授權;2021.05.28#實質審查的生效;2021.05.11#公開

摘要：本發明適用于光學檢測技術領域，提供了一種透鏡性能測試系統，包括：光源發射模塊、入射位置控制模塊、光屏、光源檢測模塊、透鏡固定模塊和上位機；光源發射模塊向光屏發射激光，光屏反射激光，被光屏反射后的激光經目標透鏡聚焦后被光源檢測模塊接收，光源檢測模塊將接收到的激光的光能量信息發送至上位機；上位機通過入射位置控制模塊改變激光在光屏上的入射位置，以及接收不同入射位置下光源檢測模塊發送的光能量信息，并根據光能量信息確定目標透鏡的性能參數。本發明的透鏡性能測試系統能夠自動、高效地對透鏡進行性能測試，且具有很高的準確率。

主權項：1.一種透鏡性能測試系統，其特征在于，包括：光源發射模塊、入射位置控制模塊、光屏、光源檢測模塊、透鏡固定模塊和上位機；所述透鏡固定模塊用于固定目標透鏡；所述光源發射模塊的發光點與所述透鏡固定模塊位于同一水平線上；所述光屏平行放置于所述水平線的前側，并與所述水平線相隔第一預設距離；所述光源檢測模塊放置于所述水平線的后側，所述光源檢測模塊的光源檢測點位于所述目標透鏡的主光軸上，且與所述目標透鏡相隔第二預設距離，所述第二預設距離為所述目標透鏡的焦距；所述光源發射模塊向所述光屏發射激光，所述光屏反射所述激光，被光屏反射后的激光經目標透鏡聚焦后被所述光源檢測模塊接收，所述光源檢測模塊將接收到的激光的光能量信息發送至所述上位機；所述上位機通過所述入射位置控制模塊改變激光在所述光屏上的入射位置，以及接收不同入射位置下所述光源檢測模塊發送的光能量信息，并根據所述光能量信息確定目標透鏡的性能參數，所述性能參數包括像差和視場；所述入射位置控制模塊包括：第一步進電機和旋轉裝置；所述第一步進電機用于接收所述上位機的第一控制信號，并根據所述第一控制信號控制所述旋轉裝置的旋轉角度；所述旋轉裝置用于根據所述旋轉角度控制所述光源發射模塊的激光發射角度，以改變激光在所述光屏上的入射位置；所述上位機具體用于：確定各個入射位置對應的激光發射角度與激光初始發射角度的夾角，得到各個入射位置對應的發射角變化量；其中，所述激光初始發射角度為所述光源檢測模塊接收到的激光的光能量最大時對應的激光發射角度；對各個入射位置對應的發射角變化量和各個入射位置對應的光能量信息進行擬合，得到第一光能量分布曲線；基于所述第一光能量分布曲線確定目標透鏡的性能參數；或者，所述所述入射位置控制模塊包括：第二步進電機、平面鏡和滑軌；所述平面鏡設置在所述滑軌上，所述光源發射模塊以預設角度向所述平面鏡發射激光，所述平面鏡將激光反射至所述光屏；所述第二步進電機用于接收所述上位機的第二控制信號，并根據所述第二控制信號控制所述平面鏡在所述滑軌上的位置，以改變激光在所述光屏上的入射位置；所述上位機具體用于：確定各個入射位置對應的平面鏡位置與平面鏡初始位置的距離，得到各個入射位置對應的平面鏡位置變化量；其中，所述平面鏡初始位置為所述光源檢測模塊接收到的激光的光能量最大時對應的平面鏡位置；對各個入射位置對應的平面鏡位置變化量和各個入射位置對應的光能量信息進行擬合，得到第二光能量分布曲線；基于所述第二光能量分布曲線確定目標透鏡的性能參數。

全文數據：

權利要求：

百度查詢： 森思泰克河北科技有限公司 一種透鏡性能測試系統

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