申請/專利權人：蘇州珂晶達電子有限公司;北京微電子技術研究所

申請日：2022-11-25

公開（公告）日：2023-03-17

公開（公告）號：CN115809623A

主分類號：G06F30/3312

分類號：G06F30/3312;G06F18/20

優先權：

專利狀態碼：在審-公開

法律狀態：2023.03.17#公開

摘要：本申請涉及數字電路故障分析技術領域，具體而言，涉及一種數字電路關鍵路徑時序分析方法和裝置，可以解決傳統算法存在的僅能處理少量獨立隨機變量的低維變化空間、以及只關注單元級故障時間而忽略單元級之間的相關性的問題。所述方法，包括：獲取數字電路系統中單元的單元數量和系統級故障率的階數D；估計與單元級數目相同數目的單元故障率和同時故障率；基于同時故障率計算D階、D?1階局部失效率；基于D階、D?1階局部失效率計算D+1階局部失效率上限值，D+1階局部失效率上限值和D階的局部失效率用于計算D階系統故障率第二估值；從D階系統故障率第一估值和D階系統故障率第二估值組成的區間中選取漸進概率近似值。

主權項：1.一種數字電路關鍵路徑時序分析方法，其特征在于，所述方法包括：獲取數字電路系統中單元的單元數量和系統級故障率的階數D；估計與單元級數目相同數目的單元故障率和同時故障率，所述單元故障率用于表征數字電路發生單元級故障事件的概率，所述同時故障率為對所有所述單元故障率進行線性組合后得到的；基于所述同時故障率計算D階局部失效率和D-1階局部失效率，所述D階和D-1階的局部失效率用于計算D階系統故障率第一估值，所述局部失效率對應的局部空間包括多個所述單元；基于D階局部失效率和D-1階局部失效率計算D+1階局部失效率上限值，所述D+1階局部失效率上限值和所述D階的局部失效率用于計算D階系統故障率第二估值；從所述D階系統故障率第一估值和D階系統故障率第二估值組成的區間中選取最小值，所述最小值為漸進概率近似值。

全文數據：

權利要求：

百度查詢： 蘇州珂晶達電子有限公司;北京微電子技術研究所 一種數字電路關鍵路徑時序分析方法和裝置

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